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PH-E-039

AFM (Atomic force microscopy)

포토닉장비표면분석
PRODUCT

기술 설명

박막 표면 형상 및 거칠기 측정, 나노구조 분석

세부 스펙

프로브 팁: 1-10 µm, RF 대역폭: DC-20 GHz, XY 이동범위: 25-75 mm

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