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PH-E-041

XRD (X-ray diffraction)

포토닉장비구조분석
PRODUCT

기술 설명

결정 구조, 격자상수, 박막 품질 분석

세부 스펙

해상도: <1 nm, 배율: 10-500,000×, EDS 분석 가능

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